Applied Logistic Regression
Von: Hosmer, David W | Lemeshow, Stanley.
Verlag: New York : John Wiley & Sons 2000Auflage: 2. Auflage.Beschreibung: 375 S. I.ISBN: 0471356328.Schlagwörter: MATHEMATISCHE, STATISTISCHE UND ANALYSE ALLGEMEIN(7) | Statistische und Ökonometrische Methoden allgemein(7x2) | Identifikation und Schätzung der Parameter, Hypothesentest Allgemein(7x23) | Regression und Korrelation. Multivariante Analyse, Faktorenanalyse, Kovarianz(7x232)DDC-Klassifikation: 32.731Medientyp | Aktuelle Bibliothek | Sammlung | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | |
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Buch | WIFO | BIB | 32.731 (Regal durchstöbern(Öffnet sich unterhalb)) | Verfügbar | WIF100629106 |
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